晶圓自動光學檢測機
- Line Scan 高速檢測 + AI 缺陷分類
- 支援 Silicon/Glass Wafer 正背面外觀缺陷檢測
- 可應用於 CIS/IQC/OQC
- 可搭載“8/12” EFEM，支援 SECS GEM200/300
Computer Vision
Software / Hardware
特點
應用場景
賣家資訊
晶圓自動光學檢測機
方案描述
- Line Scan 高速檢測 + AI 缺陷分類
- 支援 Silicon/Glass Wafer 正背面外觀缺陷檢測
- 可應用於 CIS/IQC/OQC
- 可搭載“8/12” EFEM，支援 SECS GEM200/300
垂直應用
其他應用標籤
半導體
應用案例
AI 類型
Computer Vision
資料來源
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硬體/軟體
Software / Hardware
方案資訊連結
https://www.favite.com/product/semi-wafer-aoi/
特點
應用場景
賣家資訊