半導體晶粒表面檢測

Cognex Deep Learning 的缺陷探測工具可在晶粒表面上找到不可接受且樣態眾多的塗裝缺陷,但對於基於規則的視覺檢測系統而言,卻是過於複雜或相當費時。該工具會檢查晶粒的表面,檢測各處是否混合出現任何裂縫、碎裂或焦痕。利用可展現缺陷類型與位置變化的許多不同圖像來訓練軟體。識別出潛在的目標檢測區之後,再由 Cognex Deep Learning 的分類工具將缺陷 (例如,裂縫、碎裂、塵斑等) 分類。使用這項資訊,可以改善流程以減少缺陷並提高成品率。

Computer Vision
Software / Hardware
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其他應用標籤
半導體
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美商康耐視股份有限公司
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半導體晶粒表面檢測
方案描述

Cognex Deep Learning 的缺陷探測工具可在晶粒表面上找到不可接受且樣態眾多的塗裝缺陷,但對於基於規則的視覺檢測系統而言,卻是過於複雜或相當費時。該工具會檢查晶粒的表面,檢測各處是否混合出現任何裂縫、碎裂或焦痕。利用可展現缺陷類型與位置變化的許多不同圖像來訓練軟體。識別出潛在的目標檢測區之後,再由 Cognex Deep Learning 的分類工具將缺陷 (例如,裂縫、碎裂、塵斑等) 分類。使用這項資訊,可以改善流程以減少缺陷並提高成品率。

垂直應用
其他應用標籤
半導體
應用案例
AI 類型
Computer Vision
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硬體/軟體
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美商康耐視股份有限公司
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