Micro LED COW/COC 檢量測機
- 超高速 AI 即時檢測
- 檢測項目：晶粒缺陷、損傷、髒污、刮傷、缺晶
- 巨量轉移後晶粒位置位移/旋轉量測
- 依據客戶需求可支援“4~8” wafer 及不同尺寸 Panel
Computer Vision
Software / Hardware
特點
應用場景
賣家資訊
Micro LED COW/COC 檢量測機
方案描述
- 超高速 AI 即時檢測
- 檢測項目：晶粒缺陷、損傷、髒污、刮傷、缺晶
- 巨量轉移後晶粒位置位移/旋轉量測
- 依據客戶需求可支援“4~8” wafer 及不同尺寸 Panel
垂直應用
其他應用標籤
光電/面板
應用案例
AI 類型
Computer Vision
資料來源
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硬體/軟體
Software / Hardware
方案資訊連結
https://www.favite.com/product/fpd-mi-chip-on-wafer-carrier/
特點
應用場景
賣家資訊