半導體晶圓缺陷檢驗
Cognex Deep Learning 軟體可針對更大部分的晶圓執行自動化缺陷篩選。缺陷探測工具可完全忽略底下的晶圓層,即使是在晶圓層任意處的小缺陷也能發現,然後剔除任何異常者。其也可用於兩層式檢測系統,識別模稜兩可的情況,以及送到離線人工檢測站,以供進一步檢閱。
Computer Vision
Software / Hardware
特點
應用場景
垂直應用
其他應用標籤
半導體
應用案例
方案資訊連結
https://www.cognex.com/zh-tw/industries/electronics/semiconductors/wafer-defect-inspection
賣家資訊
半導體晶圓缺陷檢驗
方案描述
Cognex Deep Learning 軟體可針對更大部分的晶圓執行自動化缺陷篩選。缺陷探測工具可完全忽略底下的晶圓層,即使是在晶圓層任意處的小缺陷也能發現,然後剔除任何異常者。其也可用於兩層式檢測系統,識別模稜兩可的情況,以及送到離線人工檢測站,以供進一步檢閱。
垂直應用
其他應用標籤
半導體
應用案例
AI 類型
Computer Vision
資料來源
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硬體/軟體
Software / Hardware
方案資訊連結
https://www.cognex.com/zh-tw/industries/electronics/semiconductors/wafer-defect-inspection
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