光學薄膜 AOI 自動檢測機設備
  1. 光學薄膜常見外觀瑕疵檢驗:摺痕、手汗、殘膠、水汙、異物、黑線、油汙等
  2. 可驗材料:上擴散膜、下擴散膜、複合膜、貼合膜以及增亮膜等
Computer Vision
Software / Hardware
特點
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垂直應用
其他應用標籤
光電/面板
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賣家資訊
賣家名稱
岳揚智控股份有限公司
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光學薄膜 AOI 自動檢測機設備
方案描述
  1. 光學薄膜常見外觀瑕疵檢驗:摺痕、手汗、殘膠、水汙、異物、黑線、油汙等
  2. 可驗材料:上擴散膜、下擴散膜、複合膜、貼合膜以及增亮膜等
垂直應用
其他應用標籤
光電/面板
應用案例
AI 類型
Computer Vision
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硬體/軟體
Software / Hardware
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特點
應用場景
賣家資訊
賣家名稱
岳揚智控股份有限公司
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