球柵陣列封裝假銲瑕疵檢測
由於 BGA 銲點集中於封裝下方,銲接後無法以目視或傳統光學檢測方法確認銲接品質,必須透過 X 光(X-ray)設備穿透取像以檢測是否發生假銲瑕疵。X 光影像係具背景雜訊的灰階影像,成像上不具明顯邊緣,難以撰寫邏輯來辨識影像中的瑕疵。 運用 SolVision AI 影像平台的 Segmentation 技術,將 X 光影像中錫球重疊的假銲瑕疵予以標註並藉以執行 AI 模型的深度學習。經訓練後的 AI 即可在具背景雜訊、無明顯影像邊緣的條件下,將假銲瑕疵精準檢出。
Computer Vision
Software
特點
應用場景
垂直應用
其他應用標籤
PCB/IC/電子零件
應用案例
方案資訊連結
https://www.solomon-3d.com/tw/%E5%81%87%E9%8A%B2%E7%91%95%E7%96%B5%E6%AA%A2%E6%B8%AC/
賣家資訊
球柵陣列封裝假銲瑕疵檢測
方案描述
由於 BGA 銲點集中於封裝下方,銲接後無法以目視或傳統光學檢測方法確認銲接品質,必須透過 X 光(X-ray)設備穿透取像以檢測是否發生假銲瑕疵。X 光影像係具背景雜訊的灰階影像,成像上不具明顯邊緣,難以撰寫邏輯來辨識影像中的瑕疵。 運用 SolVision AI 影像平台的 Segmentation 技術,將 X 光影像中錫球重疊的假銲瑕疵予以標註並藉以執行 AI 模型的深度學習。經訓練後的 AI 即可在具背景雜訊、無明顯影像邊緣的條件下,將假銲瑕疵精準檢出。
垂直應用
其他應用標籤
PCB/IC/電子零件
應用案例
AI 類型
Computer Vision
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硬體/軟體
Software
方案資訊連結
https://www.solomon-3d.com/tw/%E5%81%87%E9%8A%B2%E7%91%95%E7%96%B5%E6%AA%A2%E6%B8%AC/
特點
應用場景
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